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可测集类文章270篇，页次：1/1页 【 第一页‖ 上一页 ‖ 下一页 ‖ 最后页】 转到
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| 加权和条件下的b-c引理及其在测度空间[本文44页] | 超越亚纯函数可测动力学及拓扑动力学[本文96页] | 复杂数字电路板的可测性研究[本文92页] |
| 基于des理论的数模混合电路的可测试性[本文60页] | 基于与或阵列结构的可编程逻辑器件的[本文72页] | 数模混合电路可测试性的若干问题研究[本文68页] |
| 数模混合电路的故障诊断及可测性研究[本文64页] | 混合集成电路可测试性设计的研究[本文83页] | 基于des理论的数模混合电路可测试性研[本文68页] |
| irfpa读出电路设计测试及可测性设计研[本文96页] | 基于bist的嵌入式存储器可测性设计研[本文73页] | 可测性设计优化方案与片上网络可测性[本文72页] |
| 基于soc架构的可测性设计方法学研究[本文111页] | 特种芯片集成中的可测性设计[本文86页] | 低功耗mp3解码器设计及其可测性分析[本文161页] |
| 高性能通用处理器的可测试性设计研究[本文76页] | 数字电路时滞可测试性设计研究[本文73页] | 一种基于模糊评估分层模型的构件可测[本文59页] |
| 木质包装热处理中心温度与可测环境参[本文59页] | 可拓检测中可测物元与不可测物元的关[本文81页] | 可拓检测中可测信息的有效性及其挖掘[本文67页] |
| 关键可测物元对不可测物元的聚焦变换[本文80页] | 可测物元关键要素的提取方法的研究[本文76页] | 可测物元焦点显形机制的研究[本文75页] |
| 可拓检测中关键可测物元的提取[本文84页] | 可测空间上的粗糙集模型及其应用[本文43页] | fft ip核设计及其可测性设计的研究[本文71页] |
| soc可测性技术研究与实现[本文71页] | vlsi高层次综合中可测性和低功耗设计[本文121页] | 基于bist的嵌入式存储器可测性设计算[本文61页] |
| 一种基于扫描阵列的快速低功耗可测性[本文67页] | 基于fpga的可测性设计方法研究[本文81页] | 集成处理器仿真平台sopc系统可测性方[本文79页] |
| 嵌入式存储器的可测性设计及测试算法[本文62页] | 基于边界扫描的数字系统可测性设计研[本文71页] | 系统级芯片（soc）可测试性结构及其优[本文171页] |
| soc可测性结构的研究与实现[本文69页] | 视频后处理芯片中核心算法的硬件实现[本文82页] | 芯片设计中的可测试性设计技术[本文62页] |
| 混合信号测试潜在质量可测性研究[本文63页] | 2000t快锻机液压系统可测性研究[本文79页] | 集成电路自动测试方法及可测性设计研[本文99页] |
| 嵌入式内核的可测试性设计研究[本文100页] | 寄存器文件的可测性设计与实现[本文66页] | 嵌入式计算机可测试性设计[本文70页] |
| voip板卡可靠性和可测试性设计[本文61页] | 系统级芯片的可测性研究与实践[本文55页] | gps基带芯片的可测性设计研究[本文69页] |
| 基于jtag的基带芯片可测试性结构的设[本文66页] | 系统芯片可测性设计技术的研究[本文55页] | 基于时频分析和神经网络的模拟电路故[本文129页] |
| 数模混合信号芯片的测试与可测性设计[本文76页] | 模数混合信号系统级芯片的测试与可测[本文71页] | 系统级芯片的测试与可测性设计研究[本文75页] |
| dspc50的可测性设计及电路实现[本文82页] | x-dsp可测性设计与片上调试技术的研究[本文79页] | 区间值随机过程的可分性与可测性[本文38页] |
| 嵌入式微处理器可测性设计与片上调试[本文82页] | 通用微处理器的可测性设计及实现[本文66页] | 手机应用处理器芯片k68的可测性设计[本文81页] |
| 峰前状态理论及可测量类项群中国优秀[本文245页] | 取值于局部凸分离空间的向量值函数的[本文45页] | 液晶驱动控制芯片可测性设计方法学研[本文66页] |
| 中小尺寸lcd控制芯片低功耗可测性设计[本文64页] | 系统级芯片的可测性设计研究[本文73页] | 片上系统的可测试性技术应用研究[本文92页] |
| 基于语义的软件可测试性度量的研究与[本文76页] | 可测试性设计技术及应用研究[本文78页] | 数字电路测试生成平台研究与可测性设[本文87页] |
| 软件的可测试性模型、度量及其应用[本文68页] | 软件可测试性检测技术研究与实现[本文63页] | 基于可测试性技术的机载电路板故障诊[本文74页] |
| dsp可测性设计及测试方法研究[本文71页] | asic及嵌入式存储器的可测性设计技术[本文61页] | garfield芯片的可测性设计及测试生成[本文62页] |
| soc中部分扫描结构可测性设计技术研究[本文54页] | 嵌入式微处理器可测性设计研究与实现[本文63页] | 基于风险统计的可测控软件研究[本文63页] |
| pico专用单片机核的可测性设计研究[本文68页] | 计算机硬件电路可测试性设计与自动测[本文81页] | 片上网络通讯结构可测性设计[本文63页] |
| mmc host控制器可测性设计[本文66页] | 基于边界扫描技术的复杂数字电路板的[本文64页] | 嵌入式软件可测试性研究[本文68页] |
| 接地网腐蚀故障诊断算法与可测性研究[本文126页] | 泛loeb可测性若干问题的研究[本文51页] | 对讲机收发芯片数字模块可测性设计及[本文90页] |
| 系统可测性分析与辅助设计软件总体设[本文85页] | 多板卡电子系统的可测性设计与实现[本文84页] | 基于多信号模型的电子系统可测性算法[本文84页] |
| 片上网络系统可测试性设计及测试技术[本文164页] | 基于粒子群算法的电子系统可测性研究[本文136页] | 序集值模糊测度及其所刻画的可测函数[本文44页] |
| 软件可测试性模型研究及应用[本文64页] | 基于lasar的数字电路可测试性设计方法[本文64页] | n元τ-可测正算子迹函数的联合凹凸性[本文25页] |
| 非交换弱orlicz空间上t-可测算子的ha[本文24页] | τ-可测正算子生成的交换子的若干不等[本文32页] | 数字电路可测性算法和c++程序实现[本文69页] |
| 可测空间与pawlak代数的关系及基于粗[本文97页] | 数字电路与系统可测性测度及计算软件[本文62页] | 数字集成电路可测试性设计研究与应用[本文82页] |
| dsp可测性、测试方法和平台的研究[本文127页] | 集成电路多故障测试生成算法及可测性[本文72页] | 数字集成电路多故障测试生成算法和可[本文124页] |
| 32位risc cpu运算模块的设计及可测性[本文79页] | 基于soc架构的可测试性设计策略的研究[本文68页] | 嵌入式sram的可测性设计研究[本文55页] |
| 或—符合逻辑系统的可测性设计与测试[本文118页] | 一种基于ieee 1149.1和ieee 1500的so[本文88页] | 建立脑卒中康复运动功能评定量表的临[本文57页] |
| 嵌入式软件的可测试性研究[本文55页] | 可测物元的要素分布状态和适应度的研[本文88页] | 类tcam的数据网络查找协处理器芯片的[本文57页] |
| 视频格式转换芯片的可测性设计与形式[本文82页] | 8位mcu的可测试性设计研究[本文81页] | ⅱ-ⅵ族低维半导体可测物理量的相互关[本文48页] |
| 模糊集值映射的可测性[本文44页] | 集成电路低功耗可测性设计技术的分析[本文74页] | 基于gdi+的系统可测性建模软件设计与[本文88页] |
| 嵌入式存储器可测性设计及片上修复技[本文72页] | 集成电路可测性设计的研究与实践[本文73页] | 数模混合信号芯片的测试与可测性设计[本文80页] |
| 一款高性能处理器的可测性设计与实现[本文80页] | 可测上升流的三维海流传感器标定平台[本文80页] | 关于可测函数列与（y）模糊积分收敛性[本文55页] |
| 集成电路测试生成算法与可测性设计的[本文49页] | 面向装备健康管理的可测性技术研究[本文135页] | serdes电路的可测性集成设计与机台测[本文87页] |
| 集值模糊测度空间上可测函数列的若干[本文45页] | 可测距无线传感网的定位算法研究[本文58页] | 基于电力载波通信芯片的数字模块可测[本文56页] |
| 数模混合电路可测试性设计研究[本文107页] | 高清晰度电视atsc-8vsb芯片的可测试设[本文85页] | 可测上升流的三维海流传感器信号采集[本文75页] |
| 可测上升流三维海流传感器的结构设计[本文84页] | 一种fpga综合过程中的测试向量生成与[本文86页] | 面向装备健康状态评估的可测性设计关[本文202页] |
| soc可测性设计中的优化理论分析与方法[本文145页] | 高性能可测试性电路设计[本文77页] | 基于pcie ip核的可测试性设计与研究[本文89页] |
| 基于优化atpg的可测试性设计与实现[本文73页] | 非自治非紧性多值随机动力系统的拉回[本文199页] | 基于ccm3108的可测性设计研究[本文92页] |
| 基于幅相特征的模拟电路故障诊断与可[本文129页] | soc可测性设计中低成本与低功耗测试技[本文136页] | 基于fpga数字集成电路的可测性实现[本文77页] |
| 可测控的聚光式pv/t系统运行性能研究[本文71页] | 基于扫描设计的集成电路可测试性设计[本文85页] | 基于可测试性的新航电系统半实物仿真[本文61页] |
| 多核cpu可测性设计关键技术研究[本文78页] | yhft-xx芯片低功耗可测性设计及优化[本文79页] | 辐射探测前端读出集成电路可测性设计[本文89页] |
| 关于紧算子的奇异值不等式和可测算子[本文53页] | 集值单调测度的连续性及可测函数列的[本文40页] | 可测量人体重心轨迹及倾角的智能腰带[本文62页] |
| 基于深度卷积网络特征提取的cassini [本文78页] | 基于扫描链的soc可测性设计及故障诊断[本文72页] | 基于多维可测量空间的群智能拓展研究[本文69页] |
| 基于可测量数据的实验装置动力学结构[本文58页] | 层次化soc可测性架构及测试调度优化策[本文129页] | 基于密码散列函数的安全可测试性设计[本文64页] |
| 基于多信号模型的可测性分析技术研究[本文75页] | 基于可测试性设计结构的ip水印技术研[本文65页] | 基于复杂可测变量的非线性过程智能监[本文81页] |
| 基于多信号模型的系统可测性设计分析[本文81页] | 开关电源控制芯片可测性电路的设计[本文64页] | 可编程逻辑器件的可测性设计与验证平[本文68页] |
| 基于多信号特征模拟电路可测性分析与[本文79页] | 基于扫描的耗时少低功耗的可测试性技[本文69页] | 3d-ic中tsv的冗余布局与可测性结构优[本文76页] |
| tcam的可测试性设计[本文68页] | 基于边界扫描的模数混合系统故障诊断[本文67页] | 可测性评估定量建模技术研究[本文77页] |
| 单调集值测度的分解及可测函数的性质[本文56页] | 某型信息处理设备的可测试分析与测试[本文116页] | 姿态可调及三维位移可测的正碰假人胸[本文80页] |
| 一款多核soc的可测性设计研究[本文73页] | 多核处理器可测性设计及其ate实现[本文107页] | 高速a/d转换器的关键电路及可测性设计[本文77页] |
| 锁相环电路的可测性设计研究[本文130页] | 带有部分可测前件变量的t-s模糊系统的[本文83页] | 基于jesd204b协议的高速串行接口电路[本文87页] |
| 随钻密度测井仪电源通信模块及其软件[本文87页] | 基于边界扫描的板级测试方法研究与应[本文68页] | 无刷双馈电机直接反馈控制系统分析与[本文106页] |
| 基于des理论的数模混合电路测试方法的[本文73页] | 基于多扫描链的集成电路内建自测试方[本文59页] | 数模混合电路的测试与故障诊断的研究[本文65页] |
| soc设计平台片上总线及测试技术研究[本文85页] | 感知无线电系统中能量检测及mac层调度[本文114页] | 基于边界扫描技术的电路板测试研究[本文65页] |
| 面向数字系统的确定性自测试与延迟故[本文51页] | dvb卫星数据接收芯片ipod的验证和测试[本文90页] | 确定性逻辑内建自测试技术研究[本文62页] |
| 芯片验证测试及失效分析技术研究[本文89页] | 面向数据服务的高速寻呼协议研究及其[本文138页] | 中国股票市场的惯性效应、反向效应与[本文127页] |
| 可拓检测的要素聚焦及知识推理机制[本文84页] | 检测技术的测拓理论与工程方法研究[本文61页] | 非对称度量空间及其在控制中的应用[本文113页] |
| ieee802.11a viterbi译码器设计研究[本文71页] | 集成电路低功耗内建自测试技术的研究[本文129页] | 基于march c+算法的mbist设计[本文67页] |
| 在时间标度上的一阶脉冲发展方程解的[本文69页] | 基于自对偶测度的choquet积分[本文36页] | 电厂热工过程自适应前馈控制系统设计[本文52页] |
| 基于psa和有限域理论的高级综合研究[本文123页] | 数字集成电路测试生成算法研究[本文131页] | 基于多项式符号代数的高级测试综合研[本文67页] |
| 基于bist的带时延故障的fpga测试[本文74页] | fpga的边界扫描测试方法研究[本文73页] | 基于“龙芯”cpu的高性能安全服务器主[本文94页] |
| 舰载捷联式猎雷声纳基阵动力学建模与[本文134页] | 边界扫描测试与故障诊断系统开发[本文74页] | 电子系统内建自测试技术研究[本文160页] |
| 低功耗soc后端设计中几个关键技术的研[本文64页] | 非光滑函数在奇异空间上的微积分[本文56页] | cobra芯片的系统级测试策略[本文67页] |
| 数字高清晰度电视信道接收方案的芯片[本文86页] | 有线数字电视信道接收芯片的实现研究[本文141页] | 基于rt量子器件的数字电路设计[本文78页] |
| 媒体处理器的设计和验证研究[本文91页] | soc设计中ip核的测试方法与应用[本文82页] | 认知无线网络中频谱检测机制及频谱资[本文132页] |
| 低功耗cmos烟雾探测器芯片的设计[本文80页] | 零缺陷质量在汽车电子产品中的实现[本文87页] | 我国货币政策中间目标的选择问题研究[本文69页] |
| banach空间中立型脉冲泛函微分包含初[本文40页] | fpga的测试[本文63页] | 高性能、低功耗vliw结构数字信号处理[本文137页] |
| 复模糊测度及其扩张的初步研究[本文36页] | 可重构soc dft架构与tlb测试调度策略[本文152页] | 面向电机控制数字信号处理器设计和测[本文156页] |
| 数字电路故障诊断及故障仿真技术的研[本文76页] | 基于扫描链阻塞技术的时延测试低费用[本文59页] | 基于circularscan结构的低费用测试方[本文57页] |
| 片上网络低费用测试方法研究[本文64页] | 受控线性移位测试生成方法研究[本文64页] | 面向给定测试集的自反馈测试方法研究[本文66页] |
| 利用无关位增加测试向量分组的长度[本文60页] | rtl数据通路内部功能模块产生测试向量[本文59页] | 亚微米数字集成电路测试与验证方法研[本文81页] |
| 数字电路测试中扩展相容性多扫描树设[本文60页] | 基于扫描结构的低功耗测试方法研究[本文95页] | 基于树形向量解压缩器降低测试数据量[本文59页] |
| 无关位在被测电路自己施加测试矢量方[本文61页] | fpga时延故障测试技术研究[本文77页] | 嵌入式随机存储器测试研究及仿真[本文62页] |
| 由被测电路自己产生测试向量的自动测[本文64页] | 时延故障测试产生算法与iddt[本文65页] | 关于广义模糊积分的收敛定理[本文43页] |
| 嵌入式dsp处理器的设计与验证[本文87页] | 弹道中段目标微动特性及综合识别方法[本文173页] | 面向故障诊断的测试流程自动生成技术[本文83页] |
| 一种基于jtag标准的x-dsp芯片调试/测[本文67页] | 高速数字电路硅验证技术研究与实现[本文75页] | 复杂系统分层诊断策略优化技术研究[本文72页] |
| 基于相关性模型的诊断策略优化设计技[本文179页] | 指令cache结构设计与系统级验证[本文97页] | 一种由被测电路自己施加测试矢量的bi[本文68页] |
| 基于ieee1149.4标准的混合电路边界扫[本文75页] | x微处理器调试结构的设计及实现[本文111页] | jx5芯片测试码的产生及故障模拟[本文73页] |
| 45纳米制成移动处理器测试方法研究[本文82页] | 一类曲线的minkowski容度[本文39页] | 标记算法芯片中的dft设计[本文62页] |
| 基于openldi标准cmos lcd控制器设计与[本文132页] | 模拟电路测点优选与测试生成方法研究[本文81页] | 边界扫描测试算法和bist技术的研究与[本文77页] |
