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压电半导体薄膜断裂性能研究

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压电半导体薄膜断裂性能研究
论文目录
 
摘要第1-6页
Abstract第6-9页
1 引言第9-15页
  1.1 选题意义第9页
  1.2 压电半导体断裂研究现状第9-12页
  1.3 压痕测试技术研究现状第12-14页
  1.4 论文主要工作第14-15页
2 三维压电半导体介质断裂分析第15-43页
  2.1 基本方程第15-17页
  2.2 一般解第17-19页
  2.3 广义不连续位移基本解第19-32页
    2.3.1 作用垂直于裂纹平面不连续位移的基本解第21-27页
    2.3.2 作用平行于裂纹平面不连续位移的基本解第27-32页
  2.4 不连续位移边界元方法第32-34页
  2.5 数值算例第34-42页
  2.6 本章小结第42-43页
3 多层薄膜系统的有限元方法研究第43-59页
  3.1 压痕测试技术基本原理第43-45页
  3.2 单层薄膜-基体模型有限元分析第45-51页
    3.2.1 模型第46-48页
    3.2.2 半经验公式第48-49页
    3.2.3 半经验公式验证第49-51页
  3.3 双层薄膜-基体模型有限元分析第51-55页
    3.3.1 模型第52页
    3.3.2 半经验公式第52-53页
    3.3.3 半经验公式验证第53-55页
  3.4 多层薄膜-基体模型有限元分析第55-58页
  3.5 本章小结第58-59页
4 结束语第59-61页
  4.1 结论第59页
  4.2 创新点第59-60页
  4.3 展望第60-61页
参考文献第61-66页
附录第66-68页
附录A:行列式L展开式中的系数第66页
附录B: 矩阵L第三行元素余子式中的系数第66-67页
附录C: 位移场和应力场相关系数第67-68页
个人简历、在校期间发表的学术论文及研究成果第68-69页
致谢第69页

本篇论文共69页,点击这进入下载页面
 
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