论文目录 | |
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-18页 |
| 1.1 引言 | 第9页 |
| 1.2 二维层状纳米材料的发现与分类 | 第9-13页 |
| 1.2.1 石墨烯 | 第10-11页 |
| 1.2.2 二硫化钼 | 第11-12页 |
| 1.2.3 硒化铟 | 第12-13页 |
| 1.3 光学识别二维纳米材料的研究现状 | 第13-15页 |
| 1.4 二维纳米材料的力学性能研究现状 | 第15-16页 |
| 1.5 选题依据、研究内容及创新点 | 第16-18页 |
| 第二章 二维纳米材料的制备、转移及表征 | 第18-37页 |
| 2.1 引言 | 第18页 |
| 2.2 二维纳米材料制备 | 第18-24页 |
| 2.2.1 制备方法 | 第18-20页 |
| 2.2.2 制备过程 | 第20-22页 |
| 2.2.3 影响样品制备因素 | 第22-23页 |
| 2.2.4 改进剥离方法的关键步骤 | 第23-24页 |
| 2.3 二维纳米材料的转移 | 第24-26页 |
| 2.3.1 湿法转移 | 第24-25页 |
| 2.3.2 干法转移 | 第25-26页 |
| 2.4 二维纳米材料的表征 | 第26-36页 |
| 2.4.1 光学显微镜表征 | 第27-28页 |
| 2.4.2 拉曼光谱表征 | 第28-29页 |
| 2.4.3 原子力显微镜表征 | 第29-36页 |
| 2.5 本章小结 | 第36-37页 |
| 第三章 通过机器学习辅助光学显微镜对二维材料在不同厚度Si O2/Si基底上的可视化 | 第37-50页 |
| 3.1 引言 | 第37页 |
| 3.2 基于光学的理论分析 | 第37-45页 |
| 3.2.1 光学对比度(Optical Contrast) | 第38-41页 |
| 3.2.2 光学色差值(Total Color Difference) | 第41-42页 |
| 3.2.3 基于红绿蓝的机器学习(Red-Green-Blue Based Machine Learning) | 第42-45页 |
| 3.3 实验验证及分析 | 第45-49页 |
| 3.3.1 在90nm厚度的SiO2/Si基底上样品层数的判定 | 第45-46页 |
| 3.3.2 在100nm厚度的Si O2/Si基底上样品层数的判定 | 第46-47页 |
| 3.3.3 在270nm厚度的Si O2/Si基底上样品层数的判定 | 第47-48页 |
| 3.3.4 在300nm厚度的Si O2/Si基底上样品厚度的判定 | 第48-49页 |
| 3.4 本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 二维材料石墨烯和硒化铟的杨氏模量及破坏应力的测定 | 第50-63页 |
| 4.1 引言 | 第50页 |
| 4.2 基于AFM的力-距离曲线测试理论分析 | 第50-54页 |
| 4.2.1 AFM力-距离曲线测试原理 | 第51-53页 |
| 4.2.2 力曲线模拟 | 第53-54页 |
| 4.2.3 有限元模拟 | 第54页 |
| 4.3 实验测定及分析 | 第54-62页 |
| 4.3.1 基于不同层数厚度硒化铟的杨氏模量及破坏应力的测定 | 第54-59页 |
| 4.3.2 基于不同层数厚度石墨烯的杨氏模量及破坏应力的测定 | 第59-62页 |
| 4.4 本章小结 | 第62-63页 |
| 第五章 总结与展望 | 第63-65页 |
| 5.1 工作总结 | 第63-64页 |
| 5.2 工作展望 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 附录 | 第73-74页 |
