论文目录 | |
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 目录 | 第9-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-15页 |
| 1.1 LTE系统概述 | 第11-13页 |
| 1.1.1 LTE的产生与发展 | 第11页 |
| 1.1.2 LTE系统的技术需求 | 第11-12页 |
| 1.1.3 LTE系统关键技术 | 第12-13页 |
| 1.2 论文研究内容及意义 | 第13-14页 |
| 1.3 论文的结构安排 | 第14-15页 |
| 第2章 LTE上行物理层关键技术及随机接入过程 | 第15-32页 |
| 2.1 LTE上行物理层关键技术 | 第15-19页 |
| 2.1.1 上行SC-FDMA技术 | 第15-16页 |
| 2.1.2 LTE物理层帧结构和上行物理层参数 | 第16-17页 |
| 2.1.3 LTE上行物理信道划分与复用 | 第17-19页 |
| 2.2 LTE随机接入 | 第19-23页 |
| 2.2.1 LTE随机接入的作用 | 第19页 |
| 2.2.2 LTE随机接入的触发条件和过程 | 第19-20页 |
| 2.2.3 LTE中PRACH主要参数配置 | 第20-23页 |
| 2.3 LTE随机接入前导(Preamble)序列的生成 | 第23-28页 |
| 2.3.1 随机接入逻辑索引与物理根序列 | 第23-24页 |
| 2.3.2 随机接入前导序列—Zadoff-Chu序列 | 第24-26页 |
| 2.3.3 LTE物理随机接入前导序列的复用与循环移位 | 第26-27页 |
| 2.3.4 UE端随机接入前导产生过程 | 第27-28页 |
| 2.4 LTE物理随机接入信号 | 第28-30页 |
| 2.4.1 LTE随机接入前导结构 | 第28页 |
| 2.4.2 随机接入前导序列的选择 | 第28-29页 |
| 2.4.3 物理随机接入基带信号生成 | 第29-30页 |
| 2.5 高速移动环境对LTE随机接入的影响 | 第30-31页 |
| 2.6 本章小结 | 第31-32页 |
| 第3章 高速移动环境下LTE随机接入算法仿真分析 | 第32-42页 |
| 3.1 高速移动环境下的循环移位限制集合 | 第32-34页 |
| 3.1.1 循环移位限制理论 | 第32-33页 |
| 3.1.2 循环移位限制集合的计算 | 第33-34页 |
| 3.2 高速移动环境下随机接入前导(Preamble)序列检测 | 第34-38页 |
| 3.2.1 圆相关处理 | 第34-36页 |
| 3.2.2 加窗、峰值检测以及能量计算 | 第36-37页 |
| 3.2.3 门限值计算 | 第37页 |
| 3.2.4 判决和时间提前量(TA)的计算 | 第37-38页 |
| 3.3 高速移动环境下限制循环移位多窗检测性能仿真分析 | 第38-41页 |
| 3.4 本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 LTE随机接入技术的FPGA实现 | 第42-62页 |
| 4.1 FT4000认知无线电开发平台介绍 | 第42-44页 |
| 4.1.1 FT4000认知无线电开发平台 | 第42-43页 |
| 4.1.2 Xilinx的V6 LX240T芯片 | 第43页 |
| 4.1.3 FPGA开发环境 | 第43-44页 |
| 4.2 低复杂度频域ZC序列快速生成算法 | 第44-46页 |
| 4.3 LTE随机接入发送端在FT4000平台上的实现 | 第46-53页 |
| 4.3.1 低复杂度前导序列快速生成算法FPGA实现 | 第46-49页 |
| 4.3.2 PRACH信号的FPGA实现 | 第49-53页 |
| 4.4 LTE随机接入接收端在FT4000平台上的实现 | 第53-58页 |
| 4.4.1 LTE随机接入检测预处理 | 第54-56页 |
| 4.4.2 LTE随机接入前导检测FPGA实现 | 第56-58页 |
| 4.5 LTE随机接入接收端检测性能测试 | 第58-61页 |
| 4.5.1 FT4000平台随机接入测试场景 | 第59-60页 |
| 4.5.2 检测性能分析 | 第60-61页 |
| 4.5.3 随机接入发送端和接收端资源综合情况 | 第61页 |
| 4.6 本章小结 | 第61-62页 |
| 第5章 总结与展望 | 第62-63页 |
| 5.1 工作总结 | 第62页 |
| 5.2 未来工作展望 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及参与的科研项目 | 第67页 |
