高压栅极驱动芯片可靠性研究—博士毕业论文下载



高压栅极驱动芯片可靠性研究

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高压栅极驱动芯片可靠性研究

论文目录
摘要	第1-5页
Abstract	第5-7页
第一章绪论	第7-21页
1.1 高压栅极驱动芯片的现状与发展	第7-13页
1.2 高低压兼容工艺的现状与发展	第13-18页
1.3 本论文的主要工作与意义	第18-21页
第二章高压栅极驱动芯片的高可靠隔离结构研究	第21-45页
2.1 高低压隔离技术	第21-27页
2.2 新型双N阱辅助耗尽Divided-RESURF隔离结构	第27-32页
2.3 高低压隔离结构的高温反偏应力退化研究	第32-43页
2.4 优化后内嵌LDMOS器件的隔离结构的高温反偏应力考核结果	第43-44页
2.5 本章小结	第44-45页
第三章高压栅极驱动芯片的抗噪能力研究	第45-67页
3.1 抗瞬态v_s负过冲应力研究	第45-50页
3.2 瞬态v_s负过冲提升技术新方法及电路实现	第50-52页
3.3 抗dvs/dt噪声研究	第52-59页
3.4 新型双脉冲电容负载型电平移位电路设计	第59-64页
3.5 本章小结	第64-67页
第四章高可靠600V栅极驱动芯片设计	第67-97页
4.1 输入级电路设计	第67-74页
4.2 脉冲产生电路设计	第74-78页
4.3 欠压保护与延时电路设计	第78-83页
4.4 抗静电保护结构设计	第83-87页
4.5 全芯片电路与仿真	第87-89页
4.6 版图设计与流片	第89-95页
4.7 本章小结	第95-97页
第五章高压栅极驱动芯片测试与考核	第97-113页
5.1 电学参数测试系统研究与测试	第97-106页
5.2 可靠性测试系统研究与测试	第106-110页
5.3 应用系统测试	第110-112页
5.4 本章小结	第112-113页
第六章总结与展望	第113-115页
6.1 总结	第113-114页
6.2 展望	第114-115页
致谢	第115-117页
参考文献	第117-127页
博士期间研究成果	第127-130页

本篇论文共130页，点击这进入下载页面。

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