论文目录 | |
| 中文摘要 | 第1-7
页 |
| 英文摘要 | 第7-9
页 |
| 1 绪论 | 第9-25
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| · 铁电材料的基本特性 | 第9-11
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| · 铁电材料的主要晶体类型 | 第11-13
页 |
| · 简单钙钛矿型铁电体 | 第12
页 |
| · 层状钙钛矿型铁电体 | 第12-13
页 |
| · 铁电材料的应用 | 第13-16
页 |
| · 铁电存储器 | 第14-15
页 |
| · 红外探测器 | 第15
页 |
| · 微电子机械系统(MEMS) | 第15-16
页 |
| · 声表面波器件 | 第16
页 |
| · 铁电材料的发展 | 第16-18
页 |
| · 本文研究的主要内容与方法 | 第18-25
页 |
| 2 样品制备和性能测试分析 | 第25-32
页 |
| · 引言 | 第25
页 |
| · Sr_2Bi_4Ti_5O_(18)陶瓷样品的制备 | 第25-26
页 |
| · Sr_2Bi_4Ti_5O_(18)陶瓷样品的结构和性能测试 | 第26-30
页 |
| · X射线衍射谱 | 第26
页 |
| · 扫描电子显微照片 | 第26-27
页 |
| · 铁电性能测试 | 第27-28
页 |
| · 介电性能测试 | 第28-30
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| · 本章小结 | 第30-32
页 |
| 3 A位掺杂Sr_2Bi_4Ti_5O_(18)陶瓷的铁电介电性能 | 第32-46
页 |
| · 引言 | 第32-33
页 |
| · 实验方法 | 第33
页 |
| · Sr_2Bi_(4-x)La_xTi_5O_(18)陶瓷样品的结构和性能 | 第33-40
页 |
| · X射线衍射分析 | 第33-34
页 |
| · SEM微观结构照片 | 第34-35
页 |
| · 铁电性能 | 第35
页 |
| · 介电性能 | 第35-36
页 |
| · La取代对Sr_2Bi_4Ti_5O_(18)结构、性能的影响机制 | 第36-40
页 |
| · Sr_2Bi_(4-x)Nd_xTi_5O_(18)陶瓷样品的结构和性能 | 第40-42
页 |
| · X射线衍射分析 | 第40
页 |
| · 介电性能 | 第40-41
页 |
| · 铁电性能 | 第41-42
页 |
| · La、Nd掺杂对铁电性能影响之比较 | 第42
页 |
| · 本章小结 | 第42-46
页 |
| 4 Sr_(2-x)Bi_(4+x)Ti_5O_(18)的铁电介电性能 | 第46-55
页 |
| · 引言 | 第46-47
页 |
| · 实验方法 | 第47
页 |
| · 结果与讨论 | 第47-52
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| · X射线衍射谱 | 第47-48
页 |
| · Sr_2Bi_4Ti_5O_(18)的介电损耗 | 第48-49
页 |
| · Sr_(2-x)Bi_(4+x)Ti_5O_(18)的介电性能 | 第49-50
页 |
| · Sr_(2-x)Bi_(4+x)Ti_5O_(18)的铁电性能 | 第50-52
页 |
| · 本章小结 | 第52-55
页 |
| 5 B位掺杂对Sr_2Bi_4Ti_5O_(18)性能的影响 | 第55-67
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| · 引言 | 第55-56
页 |
| · 实验方法 | 第56
页 |
| · Sr_2Bi_(4-x／3)Ti_(5-x)V_xO_(18)的结构与性能 | 第56-60
页 |
| · X射线衍射分析 | 第56-57
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| · 铁电性能 | 第57-58
页 |
| · 介电性能 | 第58-60
页 |
| · SEM微观结构照片 | 第60
页 |
| · Sr2Bi_(4-x／3)Ti_(5-x)Nb_xO_(18)的结构与性能 | 第60-63
页 |
| · X射线衍射分析 | 第60-61
页 |
| · 铁电性能 | 第61
页 |
| · 介电性能 | 第61-63
页 |
| · Sr_2Bi_(4-2x／3)Ti_(5-x)W_xO_(18)的结构与性能 | 第63-65
页 |
| · X射线衍射分析 | 第63
页 |
| · 铁电性能 | 第63-64
页 |
| · 介电性能 | 第64-65
页 |
| · 本章小结 | 第65-67
页 |
| 6 工作总结 | 第67-69
页 |
| 研究生期间已发表和待发表的论文 | 第69-71
页 |
| 致谢 | 第71
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