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基于FINFET工艺的ASIC后端物理设计

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基于FINFET工艺的ASIC后端物理设计
论文目录
 
摘要第1-6页
ABSTRACT第6-10页
符号对照表第10-11页
缩略语对照表第11-14页
第一章 绪论第14-16页
  · 课题背景第14-15页
  · 课题来源第15页
  · 论文结构第15-16页
第二章 FINFET版图及特性的分析第16-22页
  · 短沟道效应及其影响第16-18页
  · FINFET版图第18-19页
  · FINFET特性第19-20页
  · 本章小结第20-22页
第三章 后端设计流程及其建立第22-28页
  · 后端流程化设计的研究第22-23页
  · EDA工具及相关文件第23-27页
  · 本章小结第27-28页
第四章 基于FINFET工艺的后端设计第28-66页
  · 后端设计流程建立第28-29页
  · 布图规划第29-41页
    · 设计模块的大小规划第29-30页
    · 模块内硬核的布放第30-33页
    · 模块的电源规划第33-41页
  · 布局规划第41-51页
    · 特殊物理单元布局第41-43页
    · 标准单元布局第43-47页
    · 扫描链重组第47-51页
  · 时钟树综合第51-57页
    · 时钟定义及设置第52-53页
    · 时钟网络设计第53-57页
  · 模块布线规划第57-64页
    · 布线规划第58页
    · 设计规则检查和可制造性检查第58-61页
    · 双重曝光技术及其设计规则问题第61-64页
  · 本章总结第64-66页
第五章 ECO阶段的时序与功耗分析第66-78页
  · 静态时序分析及修复第66-75页
  · 模块的功耗分析第75-77页
  · 本章总结第77-78页
第六章 总结与展望第78-80页
  · 论文总结第78-79页
  · 课题展望第79-80页
参考文献第80-82页
致谢第82-84页
作者简介第84-85页

本篇论文共85页,点击这进入下载页面
 
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