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深亚微米全耗尽SOI MOSFET参数提取方法的研究

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深亚微米全耗尽SOI MOSFET参数提取方法的研究
论文目录
 
摘要第1-5 页
Abstract第5-9 页
1 绪论第9-14 页
  · SOI结构及特点第9-10 页
  · SOI器件的应用及发展近况第10-11 页
  · 模型参数提取的意义第11-12 页
  · 本文的研究的主要内容及安排第12-14 页
2 器件结构与器件模型第14-32 页
  · 模拟方法及软件介绍第14-16 页
    · 模拟方法第14-15 页
    · 模拟软件第15-16 页
  · 结构模型的建立第16-21 页
    · 基本结构的建立第16-18 页
    · 结构参数的选取第18-21 页
  · 物理模型选取第21-24 页
    · 能量输运模型第21-23 页
    · 迁移率模型第23 页
    · 载流子复合模型第23-24 页
    · 载流子产生模型第24 页
  · 深亚微米SOI MOSFET器件模型第24-31 页
    · 短沟道全耗尽阈值电压模型第25-27 页
    · 短沟道全耗尽亚阈值模型第27-28 页
    · 短沟道全耗尽二级物理效应模型第28-29 页
    · 浮体效应和自加热效应模型第29-31 页
  · 本章小结第31-32 页
3 SOI MOSFET参数提取第32-53 页
  · 基本原理第32-33 页
    · 参数提取思想第32-33 页
    · 最优化策略第33 页
    · 提取策略第33 页
  · 最优化运算法则第33-35 页
  · 传统参数提取第35-38 页
    · 参数提取流程第36-37 页
    · 最优化过程第37-38 页
  · 本文参数提取第38-52 页
    · 采集 IV特性曲线数据第40-45 页
    · 参数提取过程第45-48 页
    · 参数提取程序第48-52 页
  · 本章小结第52-53 页
4 SOI MOSFET参数验证第53-61 页
  · 参数验证第53-59 页
  · 误差报告第59-60 页
  · 本章小结第60-61 页
5 结论第61-63 页
致谢第63-64 页
参考文献第64-67 页
附录第67 页

本篇论文共67页,点击这进入下载页面
 
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