基于等效移位寄存器的针对扫描链攻击的安全扫描设计



基于等效移位寄存器的针对扫描链攻击的安全扫描设计

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基于等效移位寄存器的针对扫描链攻击的安全扫描设计

论文目录
摘要	第1-4页
ABSTRACT	第4-7页
第一章绪论	第7-11页
· 课题的研究背景和意义	第7-9页
· 信息安全与 IC 芯片	第7-8页
· 可测试性设计与扫描链	第8页
· 扫描测试带来的安全问题	第8-9页
· 国内外研究现状	第9-10页
· 本文内容以及结构安排	第10-11页
第二章数字 IC 测试与扫描攻击	第11-29页
· 数字 IC 测试	第11-21页
· 故障模型	第11-13页
· 功能化测试和结构化测试	第13-14页
· 可测试性设计	第14-20页
· 扫描设计	第15-18页
· 内建自测试	第18-19页
· 边界扫描测试	第19-20页
· DFT 在设计流程中的位置	第20-21页
· 围绕 IC 芯片的测试	第21页
· 扫描攻击	第21-27页
· 扫描攻击基本步骤	第21-22页
· 攻击者模型	第22-23页
· 针对 AES 的扫描攻击	第23-27页
· 高级加密标准	第23-25页
· 差异分析攻击	第25-26页
· 攻击 AES 的密钥	第26-27页
· 本章小结	第27-29页
第三章安全扫描设计	第29-49页
· 等效移位寄存器电路	第29-43页
· 等效移位寄存器电路的设计	第31-32页
· 可控制性和可观察性	第32-34页
· 等效移位寄存器电路的性质	第34-35页
· 等效移位寄存器电路的安全性	第35-41页
· 含有0或1个假寄存器时的基数	第35-36页
· 含有 2 个假寄存器时的基数	第36-41页
· 扩展的等效移位寄存器电路	第41-43页
· 准等效移位寄存器电路	第41-43页
· 一般化前馈移位寄存器	第43页
· 使用等效移位寄存器电路所存在的问题	第43-44页
· 基于短等效移位寄存器电路的安全扫描设计	第44-48页
· 安全扫描设计新方案	第44-45页
· 新方案的可控制性和可观察性	第45-47页
· 使用扩展的等效移位寄存器电路的新方案	第47-48页
· 本章小结	第48-49页
第四章方案的安全性和面积开销分析	第49-61页
· 提案设计的安全性	第49-57页
· 原电路被划分成两部分的情况	第49-50页
· 原电路具有 2 个假寄存器的情况	第50-51页
· 原电路被划分成 3 或 4 个部分的情况	第51-52页
· 原电路被划分成多个部分的情况	第52-54页
· 使用扩展等效移位寄存器时的情况	第54-57页
· 面积分析以及权衡	第57-59页
· 本章小结	第59-61页
第五章总结与展望	第61-63页
· 本文总结	第61-62页
· 未来研究方向展望	第62-63页
致谢	第63-65页
参考文献	第65-68 页

本篇论文共68页，点击这进入下载页面。

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