伺服控制系统SOC芯片功能分析及测试的研究
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伺服控制系统SOC芯片功能分析及测试的研究
论文目录
致谢
第1-7页
摘要
第7-8页
ABSTRACT
第8-15页
第一章 绪论
第15-20页
1.1 课题研究的背景和意义
第15-16页
1.2 数控系统的简介和发展
第16-17页
1.3 SOC芯片的研究现状
第17-18页
1.4 论文主要工作
第18-19页
1.5 论文结构安排
第19-20页
第二章 NCU(NUMERICAL CONTROL UNIT)核心芯片SOC的功能分析
第20-45页
2.1 系统芯片SOC的概念
第20-23页
2.2 NCU中片上系统SOC部分模块功能分析
第23-44页
2.2.1 CPU
第23-26页
2.2.2 SPI控制器
第26-29页
2.2.3 DDR2 SDRAM控制器
第29-33页
2.2.4 UART控制器
第33-35页
2.2.5 PLL电路
第35-36页
2.2.6 PWM控制器
第36页
2.2.7 Nand Flash控制器
第36-37页
2.2.8 I~2C接口
第37-38页
2.2.9 Watchdog
第38-39页
2.2.10 GPIO寄存器
第39页
2.2.11 RTC模块
第39-41页
2.2.12 USB Host
第41-42页
2.2.13 Interrupt控制器
第42-43页
2.2.14 AC/DC
第43-44页
2.3 本章小结
第44-45页
第三章 系统芯片测试技术
第45-51页
3.1 芯片测试的概述
第45-46页
3.2 测试种类
第46页
3.3 ATE简介
第46页
3.4 SOC芯片的可测性设计
第46-49页
3.4.1 扫描测试
第47-48页
3.4.2 内建自测试
第48-49页
3.5 SOC测试未来的发展方向
第49-50页
3.6 本章小结
第50-51页
第四章 SOC芯片硬件测试电路的实现
第51-70页
4.1 硬件电路板的总体设计
第51-52页
4.2 主要外围电路模块设计
第52-63页
4.2.1 电源部分电路的设计
第52-55页
4.2.2 UART模块电路设计
第55-56页
4.2.3 SDRAM电路设计
第56-57页
4.2.4 测试板复位电路设计
第57-58页
4.2.5 SOC外部FLASH电路设计
第58-60页
4.2.6 时钟电路设计
第60-61页
4.2.7 SD卡电路设计
第61-63页
4.2.8 LED电路设计
第63页
4.3 SOC测试板的整体电路原理图
第63-64页
4.4 SOC测试板的PCB设计
第64-69页
4.4.1 测试板PCB尺寸和层数选择
第64-65页
4.4.2 测试板PCB布局和布线
第65-67页
4.4.3 测试板PCB设计注意事项
第67-68页
4.4.4 SOC测试板的PCB总图
第68-69页
4.5 本章小结
第69-70页
第五章 SOC部分模块测试实验结果分析
第70-76页
5.1 系统调试
第70页
5.2 SOC测试板进行测试分析
第70-75页
5.2.1 芯片中DAC模块功能验证
第71-72页
5.2.2 芯片的PWM模块功能验证
第72-73页
5.2.3 芯片中Flash模块功能验证
第73-74页
5.2.4 芯片中DDR2模块功能验证
第74-75页
5.2.5 USB访问速度测试
第75页
5.3 本章小结
第75-76页
第六章 总结与展望
第76-78页
6.1 论文小结
第76-77页
6.2 不足与改进
第77-78页
参考文献
第78-81页
附录1
第81-82页
附录2
第82-83页
攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况
第83页
本篇论文共
83
页,
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