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台阶场板结构4H-SiC高压肖特基二极管的研究

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台阶场板结构4H-SiC高压肖特基二极管的研究
论文目录
 
摘要第1-5页
Abstract第5-8页
第一章 绪论第8-16页
  · 碳化硅材料的优势及研究背景第8-10页
  · SiC 肖特基二极管的研究现状第10-12页
  · 电场集中效应和场板结构第12-14页
  · 本文的主要研究工作第14-16页
第二章 碳化硅材料特性分析和物理模型第16-30页
  · 碳化硅材料的基本特征第16-24页
    · SiC 的晶体结构第16-18页
    · 4H-SiC 的能带宽度第18-19页
    · 碰撞电离系数第19-20页
    · 载流子的迁移率第20-24页
  · 碳化硅材料的物理模型第24-26页
    · 杂质不完全离化模型和碰撞离化模型第24-25页
    · 禁带宽度模型第25-26页
    · SRH 复合及俄歇复合模型第26页
  · 器件仿真工具介绍第26-28页
  · 本章小结第28-30页
第三章 台阶场板结构 4H-SiC SBD 击穿特性模拟研究第30-46页
  · 4H-SiC 功率 SBD 工作机理研究第30-35页
    · 正向特性第31-33页
    · 反向特性第33-35页
  · 单级场板和台阶场板结构 4H-SiC SBD 器件基本结构和参数第35-36页
  · 单级场板和台阶场板结构 4H-SiC SBD 器件击穿特性比较第36-40页
  · 介质层厚度 ti对台阶结构 SBD 击穿特性的影响第40-43页
  · 本章小结第43-46页
第四章 台阶场板结构 4H-SiC SBD 工艺实验研究第46-56页
  · 实验材料及 4H-SiC SBD 的关键工艺第46-51页
    · 实验材料第46页
    · 4H-SiC SBD 关键工艺第46-51页
  · 版图设计及工艺步骤第51-54页
    · 4H-SiC SBD 版图设计第51-52页
    · 制备工艺流程第52-54页
  · 本章小结第54-56页
第五章 研究总结第56-58页
致谢第58-60页
参考文献第60-64 页

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