论文目录 | |
目录 | 第1-8页 |
摘要 | 第8-10页 |
ABSTRACT | 第10-13页 |
第一章 绪论 | 第13-26页 |
· 铁电材料概况 | 第13-16页 |
· 材料的铁电性能 | 第13-14页 |
· 材料的铁磁性能 | 第14-15页 |
· 材料的压电性能 | 第15-16页 |
· 铁电薄膜材料的应用 | 第16-17页 |
· 铁电材料的老化现象 | 第17-21页 |
· 铁电材料的自极化现象 | 第21-24页 |
· BiFeO_3的结构及其性能特征 | 第24-25页 |
· 本课题研究的主要内容 | 第25-26页 |
第二章 实验方案设计与研究方法 | 第26-33页 |
· 实验所需原料及设备 | 第26-27页 |
· 铁电薄膜的制备 | 第27-29页 |
· 铁电薄膜的制备工艺 | 第27-28页 |
· 前躯体溶液的配置 | 第28页 |
2.2.3 制备 BiFeO_3-基薄膜的工艺流程 | 第28-29页 |
· 薄膜的表征手段 | 第29-33页 |
2.3.1 X 射线衍射分析 | 第29-30页 |
· 铁电性能测试 | 第30页 |
· 扫描电子显微镜 | 第30-31页 |
· 原子力显微镜(AFM) | 第31-33页 |
第三章 LaNiO_3厚度对 BiFe_(0.99)W_(0.01)O_3薄膜的影响 | 第33-41页 |
3.1 LaNiO_3厚度对 BiFe_(0.99)W_(0.01)O_3薄膜结构的影响 | 第33-34页 |
3.2 SEM 图像分析 | 第34-35页 |
3.3 LaNiO_3厚度对 BiFe_(0.99)W_(0.01)O_3薄膜压电性能的影响 | 第35-39页 |
3.3.1 LaNiO_3厚度对 BiFe_(0.99)W_(0.01)O_3薄膜压电响应的影响 | 第35-38页 |
3.3.2 LaNiO_3厚度对 BiFe_(0.99)W_(0.01)O_3薄膜剩余压电系数的影响 | 第38页 |
3.3.3 LaNiO_3厚度对 BiFe_(0.99)W_(0.01)O_3薄膜压电响应均匀性的影响 | 第38-39页 |
· 小结 | 第39-41页 |
第四章 退火温度对 BiFe_(0.995)W_(0.005)O_3薄膜结构和性能的影响 | 第41-49页 |
4.1 退火温度对 BiFe_(0.995)W_(0.005)O_3薄膜结构的影响 | 第42-43页 |
4.2 退火温度对 BiFe_(0.995)W_(0.005)O_3薄膜表面形貌的影响 | 第43-44页 |
4.3 退火温度对 BiFe_(0.995)W_(0.005)O_3薄膜漏电流的影响 | 第44-45页 |
4.4 退火温度对 BiFe_(0.995)W_(0.005)O_3薄膜铁电性能的影响 | 第45-46页 |
4.5 退火温度对 BiFe_(0.995)W_(0.005)O_3薄膜压电性能的影响 | 第46-48页 |
· 本章小结 | 第48-49页 |
第五章 老化对不同退火温度的 BiFeO_3薄膜性能的影响 | 第49-57页 |
5.1 不同退火温度的 BiFeO_3薄膜的晶体结构 | 第49-50页 |
5.2 不同退火温度的 BiFeO_3薄膜的表面形貌 | 第50-51页 |
5.3 退火温度对 BiFeO_3薄膜漏电流的影响 | 第51页 |
5.4 老化对 BiFeO_3薄膜压电性能的影响 | 第51-56页 |
· 小结 | 第56-57页 |
第六章 BiFeO_3基薄膜的自极化研究 | 第57-61页 |
6.1 退火温度对 BiFeO_3薄膜自极化的影响 | 第57-59页 |
6.1.1 不同退火温度的 BiFeO_3薄膜的结构 | 第57-58页 |
6.1.2 退火温度对 BiFeO_3薄膜自极化的影响 | 第58-59页 |
6.2 离子掺杂对 BiFeO_3基薄膜自极化的影响 | 第59-60页 |
6.2.1. 不同离子掺杂的 BiFeO_3基薄膜的结构 | 第59页 |
6.2.2. 离子掺杂对 BiFeO_3基薄膜自极化的影响 | 第59-60页 |
· 小结 | 第60-61页 |
第七章 结论与展望 | 第61-63页 |
· 主要研究结论 | 第61页 |
· 主要创新点 | 第61-62页 |
· 工作展望 | 第62-63页 |
参考文献 | 第63-70页 |
致谢 | 第70-71页 |
附录 | 第71
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