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低电压下数字电路概率特性分析及应用

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低电压下数字电路概率特性分析及应用
论文目录
 
摘要第1-6页
ABSTRACT第6-10页
本文所用到的图和表第10-12页
本文缩略词说明第12-13页
第一章 绪论第13-18页
  · 研究背景及现状第13-15页
  · 课题来源和课题意义第15-16页
  · 本文主要内容与贡献第16页
  · 本文组织结构第16-18页
第二章 概率 CMOS 逻辑电路基本理论第18-27页
  · 电路功耗第18-19页
  · 概率开关的概率模型第19-23页
    · 数字开关第19-20页
    · 概率开关第20-23页
  · 基本逻辑门概率模型第23-26页
  · 本章小结第26-27页
第三章 概率模型推导及测试第27-37页
  · 状态转移法第27-31页
  · 硬件平台测试第31-33页
  · 结果分析第33-36页
  · 本章小结第36-37页
第四章 电路错误容忍相关技术第37-46页
  · 电路错误容忍技术第37页
  4.2 TMR 算法第37-38页
  4.3 RPR 算法第38-40页
  4.4 RRNS 技术第40-45页
    · 有符号数的映射第41-42页
    4.4.2 RNS 与 BNS 之间的转换第42-43页
    4.4.3 RNS 中的符号检测第43-44页
    4.4.4 RNS 中的数值缩放第44-45页
  · 本章小结第45-46页
第五章 面向概率电路的容错计算系统结构设计第46-70页
  · 设计思路第46-48页
  5.2 RPR-TMR 结构设计第48-49页
  5.3 RPR-RRNS 结构设计第49-63页
    5.3.1 有符号数 RRNS 纠错算法第49-54页
    5.3.2 RPR-RRNS 结构实现第54-63页
  · 性能分析第63-69页
    · 功耗分析第63-67页
    · 信噪比分析第67-69页
  · 本章小结第69-70页
第六章 总结与展望第70-72页
致谢第72-73页
参考文献第73-76页
攻硕期间参与项目及研究成果第76-77 页

本篇论文共77页,点击这进入下载页面
 
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