低电压下数字电路概率特性分析及应用
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低电压下数字电路概率特性分析及应用
论文目录
摘要
第1-6页
ABSTRACT
第6-10页
本文所用到的图和表
第10-12页
本文缩略词说明
第12-13页
第一章 绪论
第13-18页
· 研究背景及现状
第13-15页
· 课题来源和课题意义
第15-16页
· 本文主要内容与贡献
第16页
· 本文组织结构
第16-18页
第二章 概率 CMOS 逻辑电路基本理论
第18-27页
· 电路功耗
第18-19页
· 概率开关的概率模型
第19-23页
· 数字开关
第19-20页
· 概率开关
第20-23页
· 基本逻辑门概率模型
第23-26页
· 本章小结
第26-27页
第三章 概率模型推导及测试
第27-37页
· 状态转移法
第27-31页
· 硬件平台测试
第31-33页
· 结果分析
第33-36页
· 本章小结
第36-37页
第四章 电路错误容忍相关技术
第37-46页
· 电路错误容忍技术
第37页
4.2 TMR 算法
第37-38页
4.3 RPR 算法
第38-40页
4.4 RRNS 技术
第40-45页
· 有符号数的映射
第41-42页
4.4.2 RNS 与 BNS 之间的转换
第42-43页
4.4.3 RNS 中的符号检测
第43-44页
4.4.4 RNS 中的数值缩放
第44-45页
· 本章小结
第45-46页
第五章 面向概率电路的容错计算系统结构设计
第46-70页
· 设计思路
第46-48页
5.2 RPR-TMR 结构设计
第48-49页
5.3 RPR-RRNS 结构设计
第49-63页
5.3.1 有符号数 RRNS 纠错算法
第49-54页
5.3.2 RPR-RRNS 结构实现
第54-63页
· 性能分析
第63-69页
· 功耗分析
第63-67页
· 信噪比分析
第67-69页
· 本章小结
第69-70页
第六章 总结与展望
第70-72页
致谢
第72-73页
参考文献
第73-76页
攻硕期间参与项目及研究成果
第76-77 页
本篇论文共
77
页,
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。
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